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首页>>深圳市新玛科技有限公司>>产品展示>>半导体C-V特性分析仪>>试验系统

  • IOL间歇寿命试验系统HK-IOL-16H 参考价:面议

    测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode(小电流器件)进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温...
    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    IOL间歇寿命试验系统试验系统HK-IOL-16H碳化硅器件参数测试仪IOL间歇寿命试验系统
    2024/1/29 15:42:292359
  • IGBT/SIC模块功率循环试验系统 参考价:面议

    IGBT/SIC模块功率循环试验系统华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方...
    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    SIC碳化硅器件测试仪HUSTEC-3000HUSTEC碳化硅器件参数测试仪参数测试仪
    2024/1/29 15:40:262516

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