同惠TH513半导体C-V特性分析仪参数测试仪 参考价：面议
同惠TH513半导体C-V特性分析仪参数测试仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。仪器采用了一体化集成设计，二...
TH512 半导体C-V特性分析仪参数测试仪 参考价：面议
TH512 半导体C-V特性分析仪参数测试仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。仪器采用了一体化集成设计，二极...
TH511半导体C-V特性分析仪参数测试仪 参考价：面议
TH511半导体C-V特性分析仪参数测试仪简介：TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的...
HIOKI日置 3506-10电容电阻测试仪测量仪 参考价：面议
HIOKI日置 3506-10电容电阻测试仪测量仪：对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，...
日置C测试仪3504-60电容检测测量仪器 参考价：面议
日置C测试仪3504-60电容检测测量仪器：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 静电容量...
HIOKI C测试仪3504-50元器件电容检测仪器 参考价：面议
HIOKI C测试仪3504-50元器件电容检测仪器：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容...
HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40 参考价：面议
HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 ...
费思FTI5000系列FTI5010-10000保险丝测试仪 参考价：面议
费思FTI5000系列FTI5010-10000保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
费思FTI5000系列FTI5015-1000保险丝测试仪 参考价：面议
费思FTI5000系列FTI5015-1000保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
费思FTI5000系列FTI5015-200保险丝测试仪 参考价：面议
费思FTI5000系列FTI5015-200保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪 参考价：面议
致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪产品特色：●测试参数:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000 参考价：面议
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000功能及主要参数： 适用碳化硅二极管、IGBT模块\\MOS管等器件的时间参数测试。
HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪 参考价：面议
HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系...
MOS管动态参数测试仪ITC57300 参考价：面议
MOS管动态参数测试仪ITC57300ITC57300是美国ITC公司设计生产的高集成度功率半导体分立器件动态参数测试设备，采用测试主机+功能测试头+个性板的测...
大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT 参考价：面议
大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT华科智源IGBT电参数测试仪，可用于多种封装形式的IGBT的测试，还可以测量大功率二极管、IGBT模块...
IGBT双脉冲测试平台PT-1224 参考价：面议
IGBT双脉冲测试平台PT-1224该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过特制测试夹具的连接，实...
IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT 参考价：面议
IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT华科智源功率器件测试仪，测试二极管 、IGBT，MOS管，SIC器件静态参数，并生产器件传输曲线和转移曲线，...
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