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2025
05-23wafer晶圆几何形貌测量系统:厚度(THK)翘曲度(Warp)弯曲度(Bow)等数据测量
晶圆是半导体制造的核心基材,所有集成电路(IC)均构建于晶圆之上,其质量直接决定芯片性能、功耗和可靠性,是摩尔定律持续推进的物质基础。其中晶圆的厚度(THK)、翘曲度(Warp)和弯曲度(Bow)是直...2025
05-232025
05-23扫描电镜:打开微观世界的“超维相机“,科学家如何用它破解纳米谜题?
当你用手机拍摄一朵花的微距照片时,放大100倍已足够惊艳。但如果告诉你,科学家手中的"相机"能将物体放大百万倍,连病毒表面的蛋白突触都清晰可见,你是否会好奇这背后的黑科技?这把打开微观宇宙的钥匙,正是...2025
05-23精度不够?PLR3000光纤激光尺:0.2ppm误差解锁微米级制造
当“精度焦虑”成为制造业的隐形门槛:在半导体光刻中,1nm偏差可能导致整片晶圆报废;在精密机床加工中,热变形让传统测量工具“失灵”……“高精度、高稳定、抗干扰”——工业超精密制造的三大痛点,如何破局?...2025
05-222025
05-222025
05-21激光跟踪仪为生命护航:X射线计算机断层扫描成像系统检测的应用
行业背景概述:X射线计算机断层扫描成像系统,简称CT。近年来,全球CT市场展现出稳健的扩张态势。在亚太地区,伴随各国对医疗基础设施建设的持续投入,以及人口老龄化程度的加深,CT设备迎来了爆发式的市场需...2025
05-202025
05-122025
05-082025
04-232025
04-182025
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03-262025
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