XRD 0822 AP X 射线数字平板探测器是基于8英寸非晶硅传感器的二维光电二极管阵列，具有200微米像素尺寸，成像区域200mm*200mm，X射线通过闪烁屏转换为光电子并被光电二极管转化为数字信号，16位数字化信息可实现高动态范围及对比度，使检测图像边界轮廓清晰、质量媲美胶片。

XRD 0822 AP X 射线数字平板探测器具有检测速度快(非像素合并时帧速可达25fps)、可接收320kV的X射线直接照射等特点，被广泛应用于工业领域X射线检测。

技术参数

● 面板         转换屏          DRZ-PLUS

像素数目        1024×1024

像素间距        200µm

动态范围        ≥88db

灰度等级        65536(16bit)

帧速度          25fps @200µm

50fps @400µm

能量范围        20～450Kev

● 电子设备     电荷放大器      8×128通道ASIC

增益调节      0.25/0.5/1/2/4/8pF共6级可设置

ADC 转换      16bit

非线性            ≤1%