目前正在努力进一步提高光电效率。除了电池的设计,微调原材料的质量(单晶硅或多晶硅)是实现更高的功率和更低的成本的主要途径。FTIR光谱是高灵敏度硅分析的理想工具,布鲁克支持工业和研究团体,以确保和提高原材料质量和纯度。
对于硅生产商来说,碳、氧和“浅杂质”(如B、P……)的测定是基本的。布鲁克CryoSAS是这个复杂的太阳能级或电子级硅低温质量控制的全自动工业标准。它在ppb/ppt范围内的灵敏度令人印象深刻,简单的工作流程和无制冷剂低温技术大大减少了人员和运行成本。使用布鲁克VERTEX80光谱仪和的光致发光模块及自动无制冷剂低温恒温器,对于浅杂质,可以通过低温近红外光致发光(PL)技术甚至可实现更好的检测灵敏度(<1ppt)。
对于晶圆和太阳能电池制造商,来自布鲁克的SiBrickScan (SBS)能够以高灵敏度和高精度测定全硅晶棒中的氧梯度。这一旁线系统为硅结晶过程的控制提供了很有价值的信息,通过早期无需切片制备样品而进行废料鉴别,节省了资金和能源。
后但同样重要的是,对于太阳能热涂层的表征,布鲁克提供了基于FTIR(例如VERTEX 或 INVENIO)的辐射率测定解决方案,辐射率是太阳辐射转化为热量的效率的直接度量。
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