详细摘要： 3380-P VLSI測試系統主要特色：•85 MHz 測試頻率•512 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）•平行測試可達 512 ...

详细摘要： 3380-D VLSI測試系統主要特色：•100 MHz 測試頻率•256 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）•平行測試可達 256...

详细摘要： 3380 VLSI測試系統主要特色：•50/100 MHz 測試頻率•50/100 Mbps data rate•1024 I/O pins （Z高可至1280...

详细摘要： 3360-P VLSI測試系統主要特色：•25/50 MHz 測試頻率•25/50 Mbps data rate•256 logic I/O pins•8M （...

详细摘要： 3360-D VLSI測試系統主要特色：•50 MHz 測試頻率•32/64 個 I/O 通道•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體•彈性...

详细摘要： 3360 VLSI測試系統主要特色：•50 MHz 測試頻率•608 個 I/O 通道•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體•彈性化硬體結...