菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列作为一款应用广泛的能量色散型 X 射线镀层测厚及材料分析仪,源自大众认可的 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器,在其基础上实现了进一步的优化与升级。
与上一代仪器一样,菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列具备强大的功能,非常适合进行无损测量镀层厚度、材料分析以及溶液分析。同时,针对大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层,它能够实现全自动检测,大大提高了生产检测的效率和准确性。
该系列仪器采用了基本参数法这一先进技术,这一特性使其在测量和分析方面具有优势。无论是面对镀层系统,还是固体和液体样品,仪器都无需依赖标准片,即可直接进行测量和分析,为用户省去了繁琐的标准片准备工作,提升了工作的便捷性。
在测量范围上,FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列能够覆盖从元素氯(17)到铀(92),广泛的测量范围使其适用于多种不同的检测场景。对于需要进行质量控制、进料检验和生产流程监控的客户来说,FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列无疑是一款可靠且实用的仪器选择。
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