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单颗粒 ICP-MS 测定铁纳米颗粒：利用通用池技术消除质谱干扰

随着纳米颗粒兴趣的增加，各种测试方法正被应用。采用单颗粒模式电感耦合等离子体质谱法（SP-ICP-M...

电子/电气检测2021年05月26日
单颗粒ICP-MS测定化学-机械整平中使用的元素氧化物纳米颗粒悬浮物的特性

本研究概述了定量和表征纳米元素氧化物纳米颗粒（氧化铝和氧化铈），这些常用于纳米电子学和半导体制造行业...

电子/电气检测2021年05月26日
采用液-液萃取与 GC/MS 大体积进样方法测定饮用水中低含量的半挥发性有机化合物

为简化样品制备程序并降低方法检测限，本文提出了一种更为有效、更快速的SVOC测定方法。该方法利用快速...

环保检测2021年05月21日
按照伦敦金属交易所指南使用 Avio 200 ICP-OES 分析铝合金中的添加元素

本文使用 Avio 200 ICP-OES 测定 LME 规格要求的铝合金中的添加组分。

钢铁/金属检测2021年05月19日
按照 EN 15621 的标准要求利用 Avio 500 ICP-OES 测定动物饲料中的营养物

本文讨论了利用Avio 500 ICP-OES按照欧标EN 15621针对动物饲料中营养物的分析方法...

食品/农产品检测2021年05月19日
利用单颗粒ICP-MS 在反应模式下测定半导体有机溶剂中的含铁纳米颗粒

半导体产品中的金属污染使产品品质降低。半导体宽度越小，对金属污染物的容忍度越低。常见的金属污染是过渡...

电子/电气检测2021年05月06日
使用 NexION 300S / 350S ICP-MS 测定半导体行业常用有机溶剂中的杂质

本应用指南展示了 NexION 300S ICP-MS 抗干扰的能力，仅凭一次分析，便可在热等离子体...

电子/电气检测2021年05月06日
使用 LAMBDA 1050+紫外-可见-近红外分光光度计测量增强型镜面反射（ESR）膜

目前，增强型镜面反射膜已应用于几乎所有液晶显示器的背光源，具体包括电视机、台式电脑、笔记本电脑、平板...

电子/电气检测2021年05月06日
紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状 TiO2 带隙

测量材料的带隙对半导体、纳米材料以及太阳能等行业均非常重要。此篇文章描述了如何从某一材料的紫外吸收光...

电子/电气检测2021年05月06日
实时内标法使用 Avio 500 ICP-OES 获得更高精度

使用 ICP-OES 进行测量时，通常可接受的精度（即相对标准偏差，RSD）为 1-2 %。但是，有...

电池检测2021年04月28日

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