高分子多层材料在很多领域都有着广泛的应用，而这些材料的结构和成分也是多种多样。高分子多层材料中每一层的厚度变化范围很大，可以从不足4微米到几十微米甚至更厚。作为研究这类材料的方法，显微红外光谱法得到了较多的应用。

相比于其他显微傅里叶变换红外光谱分析方法，ATR光谱成像是一种具有更多优势的比较新颖的技术，在多层材料研究中将会非常有意义。本报告叙述了高分子多层材料的ATR光谱成像测量方法，为多层材料样品的实际测量提供了一些操作建议。