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用于NexION ICP-MS的全基体进样系统(AMS)

阅读:218      发布时间:2020-02-17
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 PerkenElmer历来以设计和制造耐用性强、适合于高固溶含量样品的ICP-MS系统而著称。正是由于NexlON系列ICP-MS采用三锥接口(TCI) 技术和新一代90° 四极杆离子偏转器(QID) 的设计,使其对于高基体样品具有特殊的*耐受性。即便如此,某些类型的样品出于进样系统的考虑,仍会在分析前进行一定的稀释。稀释有助于减小基体
抑制和减少长时间分析时样品在锥上的沉积。

为降低环境样品或其他高溶解固体含量样品在分析前稀释的必要性.PerkenElmer提供了适用于NexION系列ICP-MS(2000/350/300)的全基体进样系统(AMS) 。这套系统(见图1)包含一个耐高盐雾化器和一-个带有氩气稀释气接口的雾室。稀释气的流速由独立的氩气通道控制,气流方向与雾化气流向垂直,以获得的混合效果。稀释操作的要点是在保持通入炬管的总流速不变的情况下,调节雾化气和稀释气的比例,以此决定稀释倍数。如图2所示,铟元素强度随着雾化气/稀释气流速比呈线性变化,证明了通过对两路气流速的调节,可获得高达200倍的稀释比.避免了离线手工稀释的繁琐操作和随之而来的污染和误差。对于不需稀释的样品,只需将稀释气关掉,无需取下稀释气管路。借助AMS系统,对无需稀释的样品和需要稀释200倍以内的样品分别进行分析之间,无需对仪器再次进行参数优化。
 

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

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