关于测厚仪对试件进行厚度检测的原理深度解析

阅读：1773发布时间：2021-8-11

对材料表面保护、装饰形成的笼盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学天生膜等，在有关guó jiā和国际尺度中称为覆层覆层厚度丈量已成为加工产业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量尺度的手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的丈量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差丈量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等。这些方法中前五种是有损检测，丈量手段繁琐，速度慢，多合用于抽样检修,而本公司生产经营的TM-8819-T6T系列多模式超声波测厚仪、CM-8825系列涂层测厚仪很好的解决了这方面缺陷。

X射线和β射线法是无接触无损丈量，但装置复杂昂贵，丈量范围较小。因有放射源，使用者必需遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。跟着技术的日益提高，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的进步。它合用范围广，量程宽、操纵简便且价廉，是产业和科研使用较广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行丈量原理与仪器。

电涡流测厚仪丈量原理 :

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间间隔的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。因为这类测头专门丈量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测厚仪测头。非磁性测厚仪测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，答应误差1%，量程10mm的高水平。

采用电涡流测厚仪原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可丈量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可丈量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。固然钢铁基体亦为导电体，但这类任务仍是采用磁性原理丈量较为合适。

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