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安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 展现优势性能，助力亚纳米级窄带滤光片精准表征
时间：2025-4-15
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窄带滤光片是精密光学系统的关键元件，可通过选择性透过特定波长来实现光谱纯化、波长隔离等功能，在光谱分析中扮演着关键角色。传统窄带滤光片的半高宽 (FWHM) 通常在 10nm 左右，而亚纳米级 (< 1nm) 滤光片的表征对测量仪器的性能提出了极高要求。
面对严苛要求带来的技术挑战，安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 分光光度计凭借超高的光谱分辨率脱颖而出，能够精准实现低至 0.12nm FWHM 滤光片的光谱特性表征，满足应用需求。与此同时，其具备智能化的 S/N 控制功能，可以动态调节扫描速度和光谱信噪比，使得光谱质量和测试效率均得到有效提升。
图 1. SBW 对滤光片的影响
窄带滤光片测试条件：
仪器配置：
Agilent Cary 5000/6000i UV-Vis-NIR
光路设置：
样品光路 2 个 1mm 光阑（样品前后各 50mm）
参考光路 2 个 5mm 光阑（配有 1.1 Abs 的后光路衰减器）
关键参数：
◆
光谱带宽 (SBW) ≤ 0.040nm
◆
双光束模式 + 独立控制标签激活
◆
信号平均时间 ≥ 5 秒（信噪比优化）
图 2. 窄带滤光片的光谱图
安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 具有优异的硬件系统设计，可将 SBW 设置低至 0.040nm 以满足亚纳米级分辨率的测试需求。同时，通过光阑和温度控制，可以有效减少波长漂移，采用智能的信噪比控制功能还可灵活优化扫描时间，提升效率。综上可见，安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 显然是表征窄带滤光片的理想工具，为科研与工业应用提供了可靠的数据支持！