15342214292
武汉赫兹电力导读：低压成套开关设备的温升试验可以分为电路及装置的试验。温升试验是验证设备在正常使用条件下，通以额定电流，各部分的温升值应符合有关标准的规定。装在装置内部的操作手柄，其温升允许略高些。除非另有规定，对可以接触但正常工作时不需触及的外壳和覆板，允许其温升提高10K。设备按正常使用情况放置，门、镉板、覆板、盖板都应装好。试验方案应选择损耗大的方案。进行单独电路的温升试验时，电路应通以设计规定的额定工作电流。进行装置的温升试验时，在考虑了额定分散系数后，应选择一个或几个有代表性的并能获得高温升的电路，给这些电路通以各自设计规定的额定工作电流。试验时辅助电路(包括继电器、接触器、脱扣器的线圈)应加上设计规定的额定工作电压。装置中如果包含有熔断器，试验时应装上适合于试验的熔体(由制造厂规定)。熔体的功率损耗、试验中所用的外接导体(导线)尺寸和布置情况应写入试验报告中。
测量部位包括：
(1)母线连接处以及其他元器件与母线的连接处。
(2)抽屉式设备的母线室、功能单元室和电缆室的空间。
(3)可触及的门、手柄和覆板。
以上三种部位均应尽量选产生温升高点进行测量。当温度变化不超过1℃／h时，则可记录其温升值。其值应不超过有关标准的规定值。装置内绝缘没有破坏，元器件在设备内的温度条件下正常工作，则温升试验合格。
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，化工仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
