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晶体结构对铁电测试仪测试结果的影响

阅读:371      发布时间:2025-3-17
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铁电薄膜具有铁电性且厚度在数十纳米至数微米的薄膜材料,是一类重要的功能薄膜材料。与体材料一样具有介电性、铁电开关效应、压电效应、热释电效应、电光效应、声光效应、光折射效应和非线性光学效应等一系列特性。既可单独利用上述诸效应制作出不同的功能器件,也可综合利用两个或两个以上的效应制作多功能器件、集成器件或机敏器件。
铁电测试仪是一款高量程款的铁电性能材料测试装置,这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料(既可块体材料)的电性能测量,可测量铁电薄膜电滞回线、可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜值。可以进行电致应变测试,可以蝴蝶曲线功能,设备还可以扩展高温电阻,高温介电,电容-电压曲线,TSC/TSDC等功能。动态电滞回线测量-DHM、泄漏电流测量-LM、CV测量-CVM、疲劳测量-FM、保持力测量-RM、印记测量-IM、脉冲测量-PM、静态电滞回线测量-SHM、击穿电压测量-BDM等,对于评估铁电材料的性能以及优化器件设计具有重要意义。
同一种材料,单晶体和多晶体的电滞回线是不同的。如单晶体的电滞回线很接近于矩形,P和P很接近,而且P较高;陶瓷的电滞回线中P与P相差较多,表明陶瓷多晶体不易成为单畴,即不易定向排列。

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