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有关介电常数介质损耗实验的测试目的、样品制备、测试步骤介绍
阅读：109发布时间：2025-6-3
测试目的
测定绝缘材料在特定频率和温度下的介电常数（εr）和介质损耗角正切值（tanδ），评估材料在高频电场中的储能能力和能量损耗特性，确保其符合国家标准（GB/T系列）及国际标准（ASTMD150）的要求。
样品制备
1.尺寸要求：
固体材料：厚度1±0.02mm，直径≥60mm（避免边缘效应）。
薄膜材料：叠层至总厚度≥0.5mm（GB/T5594.4要求）。
2.预处理：
清洁：用无水乙醇擦拭表面，去除污染物。
干燥：置于50°C真空烘箱中处理24小时（ASTMD150要求湿度<30%）。
恒温恒湿：在23±2°C、50±5%RH环境下平衡48小时。
测试步骤（以硅橡胶为例）
1.电极安装
采用接触式电极（镀金铜电极），施加5N压力确保与样品表面紧密接触。
对于软质材料（如硅橡胶），使用液态电极（导电银浆）避免机械应力影响。
2.电容与损耗测量
设置LCR测试仪参数：
频率：1kHz、10kHz、100kHz、1MHz（覆盖GB/T1409全频段）。
测试电压：1Vrms（避免材料击穿）。
记录电容值（Cx）和损耗因数（D）。
3.介电常数计算
εr=frac{Cx}{C0}
其中，(C0)为相同电极间距下的空气电容值。
4.介质损耗角正切值（tanδ）
直接读取LCR测试仪测得的损耗因数（D），即tanδ=D。
5.温度依赖性测试（GB/T1693要求）
将样品置于恒温箱中，在20℃、25℃、80℃下分别测量εr和tanδ。
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