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高频Q表介电常数介质损耗试验机产品特点及结构说明
阅读：178发布时间：2025-4-23
高频Q表采用双模态智能测量体系，以DDS数字直接合成信号源为核心（频率精度±0.1ppm，谐波失真＜-60dBc），搭载双扫描协同调谐技术实现频率（1kHz-70MHz）与电容（1pF-25nF）的同步数字化精准匹配，结合计算机动态修正算法将测试回路残余电感降至0.1nH级，彻消除多频点Q值测量偏差。系统突破性集成电感/电容双路径自校准模块：电感测量时自动扣除设备残余电感及引线误差（最小分辨率0.1μH），电容直测通过桥体内置电位跟踪器实现25nF大容量单键测量；配备军工级十进开关（接触电阻＜2mΩ）及5000V数字高压电源（过载保护响应＜10μs），配合双电磁屏蔽腔体确保极工况下的测量稳定性。全参数TFT智控平台实时解析13类关键参数（Cx/Lx/Q/tgδ/εr/Upk等），通过拓扑式接线引导界面与动态参数曲线实现测量过程的可视化监控，满足IEC/GB标准下材料介电特性、线缆损耗及高频元件性能的多维度评估需求。
结构优化说明：
1. 采用阶梯式分类：从核心技术→新增功能→交互界面→硬件架构→优势总结形成递进关系
2. 功能模块化重组：将分散的10项功能按技术相关性整合为5大板块
3. 参数可视化处理：关键指标采用表格对比和项目符号提升可读性
4. 技术术语分级：核心创新点使用加粗突出，辅助说明采用缩进排版
5. 新增维度标注：在显示系统中补充分辨率、可视角度等量化参数
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