尘埃粒子计数器是国家规定的计量器具,需按计量检定规程每年定期校准。因为尘埃粒子计数器在使用一段时间后,其光学系统及检测系统都会发生变化,如光源老化、发光效率降低或聚焦错位、透镜被污染,从而使整机的转换灵敏度变化。尘埃粒子计数器的校准,就是对仪器各方面进行调整,以获得较佳工作状态。
现阶段常见的校准尘埃粒子计数器的方法是利用两类不同的尘埃粒子计数器的比值进行控制，即将小可测粒径小于0.2微米的仪器称为A类仪器，其余的均为B类仪器。
在进行校准的时候，需要将A类仪器作为一个标准，从而通过计算得到B类计数器的技术效率，但是这种方式有一个严重的弊端，即A类尘埃粒子计数器无法被校准，只能默认其为准确的。
常用的2009年修订的《尘埃粒子计数器性能实验方法》，利用计数效率、粒子相应电压及比较法进行校准，但是对于尘埃粒子计数器的准确性没有做出任何规定，又没有对该技术参数的检测方法提出任何建议，而准确性恰恰是尘埃粒子计数器的根本计量特征。
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