安东帕的MCR 系列流变仪之对流控温系统 (CTD) 具有的温度控制性能，非常利于测量熔体和固体 (DMTA) 以及薄膜纤维的拉伸流变。CTD 系统采用对称设计，可以保证对所有测量系统（从平行板到固体夹具）进行无梯度的温度控制，从而确保测量聚合物熔体、玻璃熔体、金属熔体和固体时获得*测量结果。此款对流温控设备设计新颖，附件全面，是资深流变学家的*之选。

 

CTD系统可通过zui高精度温控装置进行测量，从室温到180 °C、450 °C、620 °C 或 1000 °C。可以选择液氮冷却，能够进行低至-150 ºC 的测量。采用帕尔贴系统进行冷却时，温度低至 -20 ºC (CTD 180)，快速轻松地转换配件。

CTD 180湿度配件

 

光波炉设备 CTD 180 的湿度选件可在受控的温度和湿度条件下进行流变测量，以防止样品变干。可用于研究材料在受控的湿度环境下的特性。通过使用各种固定装置，CTD 180 可在受控的湿度环境下测量从液体到固体的材料。

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