Excipolar Spinon 瞬态吸收光谱仪

高分辨、多维度、可靠且易用

　　高精度瞬态吸收光谱系统为微纳材料、体材料、溶液等的瞬态吸收特性提供了强大的测试平台，飞秒级时间分辨率精确表征不同时刻的吸收特性；宽波段响应范围表征不同波长处的吸收能力和变化；纳秒级的时间窗口表征大时间尺度范围内的吸收变化特点；微米级空间分辨率精确表征样品的空间吸收差异；可搭配振镜系统实现空间区域扫描mapping；可根据客户需求定制化产品，比如扩展低温、光电流、强磁场等功能。Excipolar Spinon系统是一款高分辨、高精度、兼容单色/多色、稳定而高可靠性的瞬态光谱检测系统，能够全面满足科研和工业检测领域的广泛需求。

　　• 特别的 光学设计实现了高时间、空间、光谱分辨率。

　　• 高精度光学延迟线在保证光学稳定性的同时，能够实现高达3.3fs的时间精度。

　　• 高分辨率的双光谱仪配置，高信噪比探测。

　　• 可搭载显微模块，达到μm级空间分辨率。

　　• 高速光谱仪采集系统，高可达2500帧/s采样速率。

　　• 双光谱仪配置带光谱参考校准功能，保证测试信号的稳定性。

　　• 吸收测试范围380-1650nm，一次采集所有光谱范围数据。

　　• 泵浦与探测光的共轴光学设计，搭配mapping扫描的软硬件功能，可快速获得高精度二维面区域的时间分辨mapping结果。

　　• 可进行单色或双色泵浦-探测或瞬态吸收测试。

　　• 透反射激发-收集设计，可实现透射/反射瞬态吸收光谱。

　　• 结合低温、电学、磁学可进行原位时间分辨光谱表征。

　　• 可结合本公司其他光谱产品进行多光谱联合测试，扩展显微拉曼、荧光、角分辨光谱等功能，实现原位稳态与瞬态光谱。

　　• 体材料、薄膜、微纳米材料，纳米颗粒及溶液的瞬态吸收过程。

　　• 半导体材料的载流子动力学过程表征，时域热性能表征等。