FCP 磁场控制平台

FCP 磁场控制平台

产品概述：

根据磁控原理设计的理想磁测量系统，磁场范围超过 3T ，利用 TESTIK475 高斯计稳定磁场控制，适合各系列电磁铁配置，连续可变的电磁气隙，实心的和光学入口极帽，线型双极，真实四象限电磁铁电源。磁场控制平台

控制特征：

TESTIK475 型高斯计努力保持确切的磁场密度，用户输入的控制设定点，用 G 、 T 、 Oe 、 A/m 来表示。为了这北京锦正茂的电磁铁磁场控制平台集成了硬件和控制部件来形成一个变化的磁场平台，可以被独立的被利用或做为用户设计的测量系统的一个基础。

※ 磁场控制平台包括锦正茂公司的电磁铁、双极电源、具有控制能力的 DSP 技术的高斯计、霍尔探头及支架等。 锦正茂提供的磁场控制平台具有不同的配制用来满足在磁场强度、磁场均匀性、样品尺寸、自定义测量要求等基础之上的用户要求。可以独立的形成用户所需要的不同磁场强度的可变磁场。广泛用于磁光测量系统、 VSM 测量系统、在线退火、霍尔效应、磁化率测量、自旋磁共振、 B-H 曲线测量和传感器校准等领域。 样做， 475 高斯计从高斯计霍尔探头得到反馈来计算并调整控制（模拟）输出。为了更大程度实现控制的稳定性， 475 型高斯计每 33 毫秒更新模拟输出。结果是一个内置的 PI 控制器提供了峰值 - 到 - 峰值的 0.5 G* 的磁场稳定性。

※ 当设定点速率激活的时候，仪器会开始从当前磁场读数加速而不是当前设定点，基于对 P 和 I 的设定。另外， 475 高斯计能设定速率来控制设定点，从当前磁场读数到一个新的值，使用一个磁场中平滑线性变换而不是瞬态特性的 PI 控制。

※ 开环磁场控制也可能用手动输出来使用 475 模拟输出，这意味着忽视了反馈并且模拟输出停留在手动用户调整。这个方法使磁体电源操作处于恒定电流模式。

※ 475 也包含了用户可设定的控制斜率限制和模拟输出电压限制。这些软件限制保证了磁体电源如果磁场控制系统遭到不合适的调整或开始摆动而不会损坏。

标准配置：

TESTIK475 有 1 个计算机接口： RS-232 串口 : 。这个接口可以设置所有仪器参数和测量值得读回。在磁场控制期间，接口的读数率是额定每秒 30 个读数。 475 的 LabVIEW 驱动是提供的（选配）。磁场控制平台不含应用软件。

控制特征：

TESTIK475 型高斯计努力保持确切的磁场密度，用户输入的控制设定点，用 G 、 T 、 Oe 、 A/m 来表示。为了这北京锦正茂的电磁铁磁场控制平台集成了硬件和控制部件来形成一个变化的磁场平台，可以被独立的被利用或做为用户设计的测量系统的一个基础。

※ 磁场控制平台包括锦正茂公司的电磁铁、双极电源、具有控制能力的 DSP 技术的高斯计、霍尔探头及支架等。 锦正茂提供的磁场控制平台具有不同的配制用来满足在磁场强度、磁场均匀性、样品尺寸、自定义测量要求等基础之上的用户要求。可以独立的形成用户所需要的不同磁场强度的可变磁场。广泛用于磁光测量系统、 VSM 测量系统、在线退火、霍尔效应、磁化率测量、自旋磁共振、 B-H 曲线测量和传感器校准等领域。

样做， 475 高斯计从高斯计霍尔探头得到反馈来计算并调整控制（模拟）输出。为了更大程度实现控制的稳定性， 475 型高斯计每 33 毫秒更新模拟输出。结果是一个内置的 PI 控制器提供了峰值 - 到 - 峰值的 0.5 G* 的磁场稳定性。

※ 当设定点速率激活的时候，仪器会开始从当前磁场读数加速而不是当前设定点，基于对 P 和 I 的设定。另外， 475 高斯计能设定速率来控制设定点，从当前磁场读数到一个新的值，使用一个磁场中平滑线性变换而不是瞬态特性的 PI 控制。

※ 开环磁场控制也可能用手动输出来使用 475 模拟输出，这意味着忽视了反馈并且模拟输出停留在手动用户调整。这个方法使磁体电源操作处于恒定电流模式。

※ 475 也包含了用户可设定的控制斜率限制和模拟输出电压限制。这些软件限制保证了磁体电源如果磁场控制系统遭到不合适的调整或开始摆动而不会损坏。磁场控制平台

注：产品为定制，不同规格价位不同，实际价格以沟通为准！